OMS2材料物理光學屬性BRDF測量儀,用于測量光學材料表面BRDF光學屬性以及材料體光學屬性,測量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合,得出.BRDF格式的文件,這些文件都攜帶了材料的表面光學屬性和體光學屬性。這些數(shù)據(jù)文件可在OMS2支持軟件中直接讀取,在OMS2支持軟件的協(xié)助下完成雜散光仿真分析處理。國內外用戶有拜爾材料、洛克希德馬丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工業(yè)上海航空電器有限公司等。
設備組成
OMS材料物理光學屬性測量儀
OMS2材料BRDF光學屬性高精測量系統(tǒng)由OMS2測量儀、數(shù)據(jù)處理工作站、OMS4數(shù)據(jù)處理軟件。
注:B2DF的解釋
雙向反射分布函數(shù)(Bidirectional Reflectiondistribution function, BSDF)是研究物體表面粗糙度之光學性質。由于物體表面上有凹凸不平的微小表面,一束入射光線射到表面而產(chǎn)生反射現(xiàn)象,用BRDF 來表示這種反射(散射)現(xiàn)象。其中雙向(Bidirectional)系指入射光與接受散射光的方向,因不同的入射光角度所產(chǎn)生的散射性質亦不相同。BRDF 主要應用在計算機仿真物體表面明亮度,與真實人眼所看物體之明亮度相符;另外可應用在背光模塊之光學模擬,例如擴散膜之散射性質。
測量波段
OMS2測量系統(tǒng)可獲得測量、提取材料在可見光以及近紅外波段的光學屬性,具體測量波段是400nm—670nm
測量結果
(1)材料表面光學屬性BRDF
a. 材料BRDF點陣數(shù)據(jù)
在使用OMS2測量材料時,儀器中的光電倍增管(PMT)在2π空間內接受樣品反射以及透射的光能量數(shù)據(jù),因此測量后會得到離散型的點陣數(shù)據(jù)。
b. 材料BRDF文件數(shù)據(jù)
離散型數(shù)據(jù)直接被使用于軟件仿真并不精確,所以所得的離散型數(shù)據(jù)必須經(jīng)過數(shù)據(jù)處理才可使用,OMS2系統(tǒng)的工作站中帶有由OPTIS研發(fā)出來的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的數(shù)據(jù)擬合、處理可得出精確的可直接使用.BRDF格式的文件
結果中可以查看光的不同入射角度,以及不同波長時,光在材料表面反射、吸收的參數(shù),并且還可查看反射的光型。
(2)OMS2數(shù)據(jù)處理軟件
OMS2數(shù)據(jù)處理軟件內含有OPTIS大量材料屬性數(shù)據(jù)庫,可對采集到的離散型數(shù)據(jù)進行處理擬合,生成.BSDF格式的材料面光學屬性文件,以及.Material格式的材料體光學屬性文件。生成的材料光學屬性文件可在OMS2支持軟件中使用。
OMS2材料物理光學屬性BRDF測量儀